• ホーム >
  • 事業ニュース >
  • オンラインセミナー「ビックデータ分析による品質追求・不良流出防止へ〜検査機データから始めるDX・AI実践〜」開催中にいただいた質問への回答を掲載しました。

事業ニュースNews

オンラインセミナー「ビックデータ分析による品質追求・不良流出防止へ〜検査機データから始めるDX・AI実践〜」開催中にいただいた質問への回答を掲載しました。

イベント情報 2022.12.22

事業ニュース一覧へ

NEWS

PICKUP TOPICS

サトー様と共同開発の印字検査システム SALI 設定レスのラベルプリンタ向け印字検査システム

高校生が企業見学で横浜技術センターに来てくれました!

シリウスビジョン検査装置を導入いただいているお客様インタビュー

LIGブログに取材記事が掲載されました!「画像検査とは何か」が分かります

Newsreleaseニュースリリース